Η Semicera παρουσιάζει την κορυφαία στον κλάδοΓκοφρέτες, σχεδιασμένο για να παρέχει ανώτερη προστασία και απρόσκοπτη μεταφορά λεπτών γκοφρετών ημιαγωγών σε διάφορα στάδια της διαδικασίας κατασκευής. ΜαςΓκοφρέτεςέχουν σχεδιαστεί σχολαστικά για να ανταποκρίνονται στις αυστηρές απαιτήσεις της σύγχρονης κατασκευής ημιαγωγών, διασφαλίζοντας ότι η ακεραιότητα και η ποιότητα των γκοφρετών σας διατηρούνται ανά πάσα στιγμή.
Βασικά Χαρακτηριστικά:
• Κατασκευή Premium Material:Κατασκευασμένα από υλικά υψηλής ποιότητας, ανθεκτικά στη μόλυνση που εγγυώνται ανθεκτικότητα και μακροζωία, καθιστώντας τα ιδανικά για περιβάλλοντα καθαρού δωματίου.
•Σχεδιασμός Ακρίβειας:Διαθέτει ακριβή ευθυγράμμιση θυρίδων και ασφαλείς μηχανισμούς συγκράτησης για την αποφυγή ολίσθησης και ζημιάς της γκοφρέτας κατά το χειρισμό και τη μεταφορά.
•Ευέλικτη συμβατότητα:Φιλοξενεί ένα ευρύ φάσμα μεγεθών και πάχους γκοφρέτας, παρέχοντας ευελιξία για διάφορες εφαρμογές ημιαγωγών.
•Εργονομικός χειρισμός:Ο ελαφρύς και φιλικός προς τον χρήστη σχεδιασμός διευκολύνει την εύκολη φόρτωση και εκφόρτωση, βελτιώνοντας τη λειτουργική απόδοση και μειώνοντας τον χρόνο χειρισμού.
•Προσαρμόσιμες επιλογές:Προσφέρει προσαρμογή για την κάλυψη συγκεκριμένων απαιτήσεων, όπως επιλογή υλικού, προσαρμογές μεγέθους και επισήμανση για βελτιστοποιημένη ενσωμάτωση ροής εργασιών.
Βελτιώστε τη διαδικασία κατασκευής ημιαγωγών σας με τα Semicera'sΓκοφρέτες, η τέλεια λύση για την προστασία των γκοφρετών σας από μόλυνση και μηχανικές βλάβες. Εμπιστευτείτε τη δέσμευσή μας για ποιότητα και καινοτομία για την παροχή προϊόντων που όχι μόνο πληρούν αλλά και υπερβαίνουν τα πρότυπα του κλάδου, διασφαλίζοντας ότι οι δραστηριότητές σας λειτουργούν ομαλά και αποτελεσματικά.
| Είδη | Παραγωγή | Ερευνα | Ανδρείκελο |
| Παράμετροι Κρυστάλλων | |||
| Πολύτυπος | 4H | ||
| Σφάλμα προσανατολισμού επιφάνειας | <11-20 >4±0,15° | ||
| Ηλεκτρικές Παράμετροι | |||
| Dopant | Άζωτο n τύπου | ||
| Αντίσταση | 0,015-0,025ohm·cm | ||
| Μηχανικές Παράμετροι | |||
| Διάμετρος | 150,0±0,2 χλστ | ||
| Πάχος | 350±25 μm | ||
| Πρωτεύων επίπεδος προσανατολισμός | [1-100]±5° | ||
| Πρωτεύον επίπεδο μήκος | 47,5±1,5 χλστ | ||
| Δευτερεύον διαμέρισμα | Κανένας | ||
| TTV | ≤5 μm | ≤10 μm | ≤15 μm |
| LTV | ≤3 μm (5mm*5mm) | ≤5 μm (5mm*5mm) | ≤10 μm (5mm*5mm) |
| Τόξο | -15μm ~ 15μm | -35μm ~ 35μm | -45μm ~ 45μm |
| Στημόνι | ≤35 μm | ≤45 μm | ≤55 μm |
| Μπροστινή (Si-face) τραχύτητα (AFM) | Ra≤0,2nm (5μm*5μm) | ||
| Δομή | |||
| Πυκνότητα μικροσωλήνων | <1 ea/cm2 | <10 ea/cm2 | <15 ea/cm2 |
| Ακαθαρσίες μετάλλων | ≤5E10άτομα/cm2 | NA | |
| BPD | ≤1500 ea/cm2 | ≤3000 ea/cm2 | NA |
| TSD | ≤500 ea/cm2 | ≤1000 ea/cm2 | NA |
| Ποιότητα εμπρός | |||
| Εμπρός | Si | ||
| Φινίρισμα επιφάνειας | Si-face CMP | ||
| Σωματίδια | ≤60ea/γκοφρέτα (μέγεθος≥0,3μm) | NA | |
| Γρατσουνιές | ≤5ea/mm. Αθροιστικό μήκος ≤Διάμετρος | Αθροιστικό μήκος≤2*Διάμετρος | NA |
| Φλούδα πορτοκαλιού/κουκούτσια/λεκέδες/ραβδώσεις/ ρωγμές/μόλυνση | Κανένας | NA | |
| Τσιπ άκρων/εσοχές/θραύσεις/εξάγωνες πλάκες | Κανένας | ||
| Πολυτυπικές περιοχές | Κανένας | Σωρευτική περιοχή≤20% | Σωρευτική περιοχή≤30% |
| Μπροστινή σήμανση λέιζερ | Κανένας | ||
| Πίσω Ποιότητα | |||
| Πίσω φινίρισμα | CMP προσώπου C | ||
| Γρατσουνιές | ≤5ea/mm,Σωρευτικό μήκος≤2*Διάμετρος | NA | |
| Ελαττώματα πλάτης (τσιπ άκρων/εσοχές) | Κανένας | ||
| Τραχύτητα πλάτης | Ra≤0,2nm (5μm*5μm) | ||
| Πίσω σήμανση λέιζερ | 1 mm (από την επάνω άκρη) | ||
| Ακρη | |||
| Ακρη | Λοξότμηση | ||
| Συσκευασία | |||
| Συσκευασία | Epi-ready με συσκευασία κενού αέρος Συσκευασία κασέτα πολλαπλών γκοφρετών | ||
| *Σημειώσεις: "NA" σημαίνει κανένα αίτημα Τα στοιχεία που δεν αναφέρονται ενδέχεται να αναφέρονται σε SEMI-STD. | |||
